Máy phân tích kích thước hạt bằng nhiễu xạ laser Anton Paar Litesizer DIF 100 (0.1 μm - 1,000 μm)

Nguyên lý đo: Nhiễu xạ laser (tán xạ Mie và Fraunhofer)

Dải đo: 0.1 μm - 1,000 μm

Số lớp kích thước: 104 (người dùng có thể điều chỉnh)

Độ chính xác : tốt hơn ± 0.5 % sai lệch**

Độ lặp lại: tốt hơn ± 0.5 % sai lệch***

Độ tái lặp**: tốt hơn ± 1 % sai lệch***

Thời gian đo điển hình: <10 giây

Tốc độ thu thập dữ liệu: 16 kHz

Bộ dò:

Loại: Mảng diode quang giãn cách theo log và diode đơn cho tán xạ bên và tán xạ sau 

Tiêu cự: 300 mm

Căn chỉnh: Tự động

Thông số thiết bị:

Kích thước thiết bị****: 400 mm x 790 mm x 290 mm (H x W x D)

Trọng lượng thiết bị****: 42.3 kg (93.2 lb)

Nguồn: 100 V đến 240 V ±10 %, 50/60 Hz

*Xác định theo chuẩn latex đơn đỉnh, bao gồm độ không chắc chắn của nhà sản xuất về kích thước chuẩn.

** Xác định theo giá trị D50 của chuẩn đa phân tán.

*** Phụ thuộc mẫu và cách chuẩn bị mẫu. Áp dụng cho phép đo phân tán trong chất lỏng.

**** Không bao gồm máy tính và bộ phân tán.

Brochure