Thiết bị đo và phân tích kích thước hạt Bettersize Bettersizer S3 Plus (0.01 - 3500 μm)

Tham số được đo

Phân bố kích thước hạt & Hình dạng hạt: Huyền phù, nhũ tương, bột khô

Tổng quan

Nguyên lý: Công nghệ nhiễu xạ laser và hình ảnh động

Phân tích: Lý thuyết tán xạ Mie và lý thuyết nhiễu xạ Fraunhofer

Thời gian đo mẫu tiêu biểu: Dưới 10 giây

Hiệu suất đo

Phạm vi đo:

0.01 - 3500 μm (Hệ thống laser)

2 - 3500 μm (Hệ thống hình ảnh)

Độ chính xác: <0.5% (tiêu chuẩn được chứng nhận NIST)

Độ lặp lại: <0.5% (tiêu chuẩn được chứng nhận NIST)

Số lớp kích thước: ≤100 (có thể điều chỉnh)

Chế độ nạp: Lưu thông tự động hoặc lưu thông bán tự động

Chức năng đặc biệt: Đo chiết suất, cài đặt SOP

Nhận dạng hình ảnh: Lên đến 120 fps, lên đến 10,000 hạt mỗi phút

Thiết bị chính

Hệ thống quang học: DLOI được cấp bằng sáng chế (Ống kính kép & Độ xiên) Hệ thống

Laser: Laser thể rắn phân cực bơm ánh sáng (10 mW / 532 nm)

Đầu dò: 96 đầu dò (sắp xếp theo hướng trước, bên và sau)

Góc đo: 0.02 - 165°

Camera CCD: 0.5x và 10x

Phân tích hình ảnh: 1.2 megapixel

Mô-đun phân tán

Tốc độ tuần hoàn: 300 - 2500 vòng/phút

Tốc độ dòng tuần hoàn: 3000 - 8000 mL/phút

Siêu âm: Bảo vệ chạy khô, Tối đa 50 W (có thể điều chỉnh)

Dung tích bình tuần hoàn: 600 mL

Phần mềm

Tuân thủ: 21 CFR Part 11, ISO 13320, ISO 13322, USP <429>

Báo cáo: Báo cáo có thể tùy chỉnh

Thông số hệ thống

Kích thước (D x W x H): 820 × 610 × 290 mm

Trọng lượng 48 kg

Điện áp: DC 24 V, 50 / 60 Hz, 20 W

Cấu hình máy tính (khuyến nghị)

Giao diện máy tính: Yêu cầu ít nhất một cổng USB 2.0 hoặc USB 3.0 tốc độ cao

Hệ điều hành: Windows 7 / Windows 10

Thông số kỹ thuật phần cứng Intel Core i7, RAM 8GB, ổ cứng 500GB, hai giao diện PCI-E X16

Bettersizer S3 Plus kết hợp phương pháp tán xạ laser và phân tích hình ảnh động bên trong một thiết bị. Thiết bị có thể đo kích thước và hình dạng của các hạt từ 0,01 μm đến 3500 μm. Độ nhạy đặc biệt của S3 Plus đối với các hạt siêu mịn hoặc các hạt có kích thước quá lớn, cùng độ phân giải vượt trội, khiến nó trở thành thiết bị đo phân tích hình dạng và kích thước mạnh mẽ nhất dành cho các nhà nghiên cứu để thực hiện các nghiên cứu khoa học hàng đầu.

Tính năng và Ưu điểm

● Phạm vi đo là 0,01 - 3.500μm (hệ thống laser), 2 - 3.500μm (hệ thống hình ảnh)

● Kết hợp phương pháp tán xạ laser và phân tích hình ảnh động trong một thiết bị, thu được kết quả về kích thước và hình dạng đồng thời

● Hệ thống DLOI (Thấu kính kép & Tỷ lệ xiên góc) được cấp bằng sáng chế cho phép đo các hạt siêu mịn có kích thước nhỏ tới 0,01 um

● Công nghệ hình ảnh camera kép có thể hiển thị hình ảnh các hạt trong thời gian thực và phát hiện các hạt có kích thước quá lớn lên tới 3500 um

● Việc đo lường chỉ số khúc xạ xác định chỉ số khúc xạ của các mẫu chưa biết và cải thiện độ tin cậy của kết quả

● Đáp ứng: 21 CFR Phần 11, ISO 13320, USP <429>, CE

Brochure

Video