Máy phân tích hợp kim XRF ESi EDX-9000A PLUS (Na (11) – U (92))

Kích thước máy quang phổ: 560 × 380 × 410 mm

Kích thước buồng mẫu: 460 × 310 × 95 mm

Trọng lượng: 45 kg

Dải nguyên tố: Na (11) – U (92)

Dải phân tích hàm lượng: 1 ppm – 99.99%

Đầu dò: SDD tốc độ cao, độ phân giải cao AmpTek

Bộ phân tích: Bộ phân tích DPP 4096 kênh

Nguồn kích thích: Ống tia X hiệu suất cao sản xuất tại Mỹ

Bộ cao áp: 0–50 kV điều chỉnh được

Nguồn điện: AC 220V, 50/60 Hz

Môi trường làm việc: -10°C đến 35°C

Phụ kiện

- Tiêu chuẩn:

Mẫu chuẩn hiệu chuẩn vàng (Au)

Giá giữ nhẫn

Cốc đựng mẫu chất lỏng

Cáp USB

Dây nguồn

Màng Mylar thử nghiệm

Báo cáo hiệu chuẩn

Thẻ bảo hành

- Optional:

Ổn áp nguồn

Mẫu chuẩn kim loại quý

Features

- Large sample chamber with the best performance Fast Silicon Drift Detector

- Outstanding sensitivity leads to up to a factor 3 improved precision – the basis for high accuracy when analyzing minor to major element concentrations.

- World's fastest XRF analyze–highest accuracy within the shortest measurement time, excellent precision

- High-count throughput detection system result in significantly (typically a factor 3) lower limits of detection for a wide range of elements.

- Easier, faster, more accurate than nitric acid test methods.

- Faster, more comprehensive analysis than fire assay, with comparable accuracy.

- Measure the content of all gold and precious metals without manually changing the calibration.

- Precisely determine the presence and concentration of other trace alloying elements and dangerous heavy elements, which could impact valuation and future refining needs.

- Friendly user interface, customizable analysis report, one-click printing test report, including analysis result, sample information, spectrum information and sample image

- Eight kinds of light path collimation systems, automatically switch according to different sample sizes, and can also test different positions of the sample and then calculate the average value to reduce the error caused by the unevenness of the sample

- High-definition built-in camera, which clearly shows the sample location detected by the instrument