Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Đo lường liên tục trong các quy trình đang chạy có kết nối với hệ thống kiểm soát sản xuất
Sử dụng linh hoạt: cho các phép đo trong chân không hoặc trong không khí; cho nhiệt độ mẫu lên đến 400°C
Tùy chọn có sẵn với làm mát bằng nước
Thiết kế và cấu trúc đặc biệt mạnh mẽ cho phép đo chính xác bền vững trong các điều kiện khắc nghiệt
Đặc biệt thích hợp để đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu trên các sản phẩm có bề mặt lớn
Nguồn tia X, máy dò và bộ lọc chính đều có thể được khách hàng lựa chọn
Hệ thống tuân theo tiêu chuẩn DIN ISO 3497 và ASTM B 568
Các ứng dụng
Độ dày của các lớp CIGS, CIS, CdTe và CdS trong ngành năng lượng mặt trời
Các lớp mỏng chỉ dày vài µm trên dải kim loại, lá kim loại và lá nhựa
Thành phần của các lớp CIGS, CIS, CdTe và CdS trong quang điện
Kiểm soát độ dày lớp phủ trong sản xuất liên tục
Giám sát quy trình trong nhà máy phun và mạ điện
Brochure
