Máy đo độ dày FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY 5000

Đo lường liên tục trong các quy trình đang chạy có kết nối với hệ thống kiểm soát sản xuất

Sử dụng linh hoạt: cho các phép đo trong chân không hoặc trong không khí; cho nhiệt độ mẫu lên đến 400°C

Tùy chọn có sẵn với làm mát bằng nước

Thiết kế và cấu trúc đặc biệt mạnh mẽ cho phép đo chính xác bền vững trong các điều kiện khắc nghiệt

Đặc biệt thích hợp để đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu trên các sản phẩm có bề mặt lớn

Nguồn tia X, máy dò và bộ lọc chính đều có thể được khách hàng lựa chọn

Hệ thống tuân theo tiêu chuẩn DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Các ứng dụng

Độ dày của các lớp CIGS, CIS, CdTe và CdS trong ngành năng lượng mặt trời

Các lớp mỏng chỉ dày vài µm trên dải kim loại, lá kim loại và lá nhựa

Thành phần của các lớp CIGS, CIS, CdTe và CdS trong quang điện

Kiểm soát độ dày lớp phủ trong sản xuất liên tục

Giám sát quy trình trong nhà máy phun và mạ điện

Brochure