Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Phân tích độ dày lớp mạ kim loại, phân tích thành phần kim loại và kiểm tra phát hiện chất cấm RoHS bằng phương pháp huỳnh quang quang phổ tia X, tuân thủ theo DIN ISO 3497 và ASTM B 568
Đầu dò PIN cho độ phân giải cao vào kết quả đo chính xác
Khẩu độ: cố định hoặc tùy chọn 01 chế độ, kích thước điểm đo nhỏ nhất xấp xỉ. 0,1mm
Bộ lọc tín hiệu: cố định
Hỗ trợ mẫu cố định hoặc giai đoạn XY thủ công
Camera cho phép theo dõi chính xác vị trí cần đo
Chiều cao mẫu lên đến 17 cm
Các ứng dụng
Phân tích không phá hủy thành phần hợp kim trong nha khoa, phân tích thành phần bạc
Lớp phủ nhiều lớp
Phân tích các lớp mạ với độ dày tối thiểu 10 nm trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn
Phân tích vi lượng kim loại nặng và các chất độc hại trong sản phẩm, ví dụ: kiểm tra hàm lượng chì trong đồ chơi
Phân tích thành phần các mẫu kim loại quý với độ chính xác cao cho ngành trang sức và trong các nhà máy lọc dầu
Brochure
