Máy đo độ dày lớp mạ và phân tích vật liệu X Ray FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XAN 252

Phân tích độ dày lớp mạ kim loại, phân tích thành phần kim loại và kiểm tra phát hiện chất cấm RoHS bằng phương pháp huỳnh quang quang phổ tia X, tuân thủ theo DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Đầu dò bán dẫn chất lượng cao (SDD) cho độ phân giải cao vào kết quả đo chính xác

XAN 250 và 252: để đo các nguyên tố nhẹ như nhôm, silicon hoặc lưu huỳnh

Khẩu độ: cố định hoặc tùy chọn 04 chế độ, kích thước điểm đo nhỏ nhất xấp xỉ. 0,3mm

Bộ lọc tín hiệu: cố định hoặc tùy chọn 06 chế độ

Bàn đo cố định hoặc di chuyển bằng tay

Camera cho phép theo dõi chính xác vị trí cần đo

Chiều cao mẫu lên đến 17 cm

Các ứng dụng

Phân tích không phá hủy thành phần hợp kim trong nha khoa, phân tích thành phần bạc

Lớp phủ nhiều lớp

Phân tích các lớp mạ với độ dày tối thiểu 10 nm trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn

Phân tích vi lượng kim loại nặng và các chất độc hại trong sản phẩm, ví dụ: kiểm tra hàm lượng chì trong đồ chơi

Phân tích thành phần các mẫu kim loại quý với độ chính xác cao cho ngành trang sức và trong các nhà máy lọc dầu

Brochure