Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 SDD (Đầu dò SDD)

Máy quang phổ huỳnh quang tia X phổ để đo tự động trên các lớp phủ <0,0 5μm và để phân tích vật liệu trong vùng đo ppm theo tiêu chuẩn DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Đầu dò SDD

Bộ lọc chính: có thể tùy chọn 3 chế độ

Khẩu độ: có thể tùy chọn 4 chế độ

Khoảng đo nhỏ nhất 0,15 mm

Chiều cao mẫu lên đến 14 cm

Bàn đo XY có thể lập trình với độ chính xác vị trí tới 10 µm

Được cấp bằng sáng chế bởi Fischer: phương pháp DCM để điều chỉnh khoảng cách đo đơn giản và nhanh chóng

Diện tích buồng mẫu lớn có thể đo các bản mạch in lớn

Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ

Các ứng dụng

Phân tích vật liệu của lớp mạ và hợp kim (kể cả các lớp phủ mỏng và hàm lượng thấp)

Ngành công nghiệp điện tử, ENIG / ENEPIG

Các tiếp điểm và đầu nối

Ngành công nghiệp thiết kế vàng, trang sức và đồng hồ

Đo lớp phủ vàng và paladi mỏng (vài nanomet) trong sản xuất PCB

Phân tích các nguyên tố vi lượng

Xác định chì (Pb) trong các ứng dụng có độ tin cậy cao (tránh làm bằng thiếc)

Phân tích lớp phủ vật liệu cứng

Brochure