Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Thiết bị đo XRF đáp ứng các tiêu chuẩn tia X DIN ISO 3497 và ASTM B 568
Phân tích vật liệu không phá hủy và đo độ dày lớp phủ của các lớp phủ rất mỏng
Bộ xử lý xung kỹ thuật số Fischer DPP + và đầu do cao cấp SSD với độ phân giải cao cho độ chính xác cao và thời gian đo ngắn
khẩu độ: có 4 sự lựa chọn. Kích thước điểm đo có thể thay đổi (ống chuẩn trực): Ø 0,1 mm (3,9 mils), Ø 0,3 mm (11,8 mils), Ø 1 mm (39,4 mils), Ø 3 mm (118 mils)
Bộ lọc có thể thay đổi giữa 3 loại
Bàn mẫu có thể điều chỉnh bằng tay (bàn kéo) để định vị mẫu nhanh chóng và dễ dàng
Con trỏ laser như một tính năng hỗ trợ định vị giúp căn chỉnh mẫu nhanh chóng
Camera màu có độ phân giải cao giúp đơn giản hóa việc xác định chính xác vị trí đo
Vận hành, đánh giá các phép đo và trình bày rõ ràng các giá trị đo thông qua phần mềm Fischer WinFTM thân thiện với người dùng
