Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB (Đầu dò SDD)

Thiết bị đa năng để đo trên các cấu trúc nhỏ, nhiều lớp, lớp chức năng và lớp phủ mỏng <0,1 µm

Hướng đo với phép đo từ trên xuống

Ống microfocus với cực dương vonfram

Khẩu độ có 4 tùy chọn

Bộ lọc có 3 tùy chọn

Đầu dò drift silicon 20 hoặc 50 mm² cho độ chính xác cao nhất trên các lớp mỏng

Các tùy chọn bàn đo khác nhau: kéo ra bằng tay, tùy chọn với phần mở rộng bàn đo hoặc tự động, cho PCB lên đến 610 × 610 mm

Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ

Các ứng dụng

Phân tích vật liệu của lớp mạ và hợp kim (kể cả các lớp phủ mỏng và hàm lượng thấp)

Ngành công nghiệp điện tử, ENIG / ENEPIG

Các tiếp điểm và đầu nối

Ngành công nghiệp thiết kế vàng, trang sức và đồng hồ

Đo lớp phủ vàng và paladi mỏng (vài nanomet) trong sản xuất PCB

Phân tích các nguyên tố vi lượng

Xác định chì (Pb) trong các ứng dụng có độ tin cậy cao (tránh làm bằng thiếc)

Phân tích lớp phủ vật liệu cứng

Brochure