Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Đo đồng thời lên đến 24 nguyên tố, từ Al (13) đến U (92), XDV-μ LD: S (16) -U (92)
Ống mao quản dẫn tia X hiện đại giúp tập trung năng lượng X-ray vao kích thước nhỏ đến 10 μm (FWHM) cho các phép đo trên cấu trúc kích thước micro
Bàn đo XY có thể lập trình và nhận dạng mẫu để đo tự động trên nhiều mẫu
Bàn đo mẫu mở rộng cho việc dễ dàng định vị mẫu
Quy trình hiệu chuẩn có hướng dẫn
Thiết kế chắc chắn để sử dụng lâu dài
Kính hiển vi quang học (độ phóng đại 270 lần) với video, con trỏ laser để xác định chính xấc điểm đo
Phân tích thông số cơ bản cho các phép đo mà không cần hiệu chuẩn
Tuân thủ theo tiêu chuẩn IPC-4552A, 4553B, 4554 và 4556, ASTM B568, ISO 3497
Các tiêu chuẩn được chứng nhận của Fischer có thể truy xuất nguồn gốc từ các đơn vị cơ sở được quốc tế công nhận
Các ứng dụng
Đo độ dày lớp mạ Au / Pd / Ni / CuFe và Sn / Ni trong phạm vi micro và nanomet
Khả năng đo trên bảng mạch đã lắp ráp và chưa lắp ráp
Kiểm tra các lớp kim loại hóa cơ bản (kim loại hóa dưới va chạm, UBM) trong phạm vi nanomet
Đo các nguyên tố nhẹ, ví dụ: xác định hàm lượng phốt pho (trong ENEIG / ENEPIG) dưới lơp Au và Pd
Kiểm tra lượng chì còn sót lại trên đỉnh của thanh đồng
Kiểm tra thành phần nguyên tố của C4 và các vết hàn nhỏ hơn, cũng như các bề mặt tiếp xúc nhỏ trong ngành bán dẫn
Brochure
