Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ (Ø 20 µm Standard*)

Đo đồng thời lên đến 24 nguyên tố, từ Al (13) đến U (92), XDV-μ LD: S (16) -U (92)

Ống mao quản dẫn tia X hiện đại giúp tập trung năng lượng X-ray vao kích thước nhỏ đến 10 μm (FWHM) cho các phép đo trên cấu trúc kích thước micro

Bàn đo XY có thể lập trình và nhận dạng mẫu để đo tự động trên nhiều mẫu

Bàn đo mẫu mở rộng cho việc dễ dàng định vị mẫu

Quy trình hiệu chuẩn có hướng dẫn

Thiết kế chắc chắn để sử dụng lâu dài

Kính hiển vi quang học (độ phóng đại 270 lần) với video, con trỏ laser để xác định chính xấc điểm đo

Phân tích thông số cơ bản cho các phép đo mà không cần hiệu chuẩn

Tuân thủ theo tiêu chuẩn IPC-4552A, 4553B, 4554 và 4556, ASTM B568, ISO 3497

Các tiêu chuẩn được chứng nhận của Fischer có thể truy xuất nguồn gốc từ các đơn vị cơ sở được quốc tế công nhận

Các ứng dụng

Đo độ dày lớp mạ Au / Pd / Ni / CuFe và Sn / Ni trong phạm vi micro và nanomet

Khả năng đo trên bảng mạch đã lắp ráp và chưa lắp ráp

Kiểm tra các lớp kim loại hóa cơ bản (kim loại hóa dưới va chạm, UBM) trong phạm vi nanomet

Đo các nguyên tố nhẹ, ví dụ: xác định hàm lượng phốt pho (trong ENEIG / ENEPIG) dưới lơp Au và Pd

Kiểm tra lượng chì còn sót lại trên đỉnh của thanh đồng

Kiểm tra thành phần nguyên tố của C4 và các vết hàn nhỏ hơn, cũng như các bề mặt tiếp xúc nhỏ trong ngành bán dẫn

Brochure