Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD (Đầu dò SDD)

Máy phân tích XRF đa năng cao cấp để đo tự động các lớp phủ rất mỏng (<0,05 μm) và phân tích vật liệu mịn với độ phân giải lên đến đơn vị hàng triệu theo ISO 3497 và ASTM B 568

Đầu dò cao cấp silicon của Fischer với diện tích hiệu dụng cực lớn (SDD 50 mm²)

Bộ lọc chính có thể thay đổi 6 chế độ và khẩu độ có thể thay đổi 4 chế độ để tối ưu hóa các điều kiện đo

Phân tích các nguyên tố nhẹ như nhôm, silic và phốt pho

Chiều cao mẫu lên đến 14 cm

Bàn đo XY có độ chính xác cao, có thể lập trình với độ chính xác sai số <5 µm cho các phép đo tự động trên các cấu trúc nhỏ

Được cấp bằng sáng chế bởi Fischer: phương pháp DCM để điều chỉnh khoảng cách đo đơn giản và nhanh chóng

Kết cấu cực kỳ chắc chắn để thử nghiệm liên tục, với độ ổn định cao

Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ

Các ứng dụng

Thử nghiệm các lớp phủ rất mỏng trong ngành công nghiệp điện tử và bán dẫn, ví dụ: lớp vàng và palađi dày dưới 50 nm

ENIG / ENEPIG

Đo lớp phủ vật liệu cứng trong sản xuất ô tô

Đo độ dày lớp phủ trong ngành công nghiệp quang điện

Phân tích dấu vết các chất độc hại như chì và cadmium theo tiêu chuẩn RoHS, WEEE, CPSIA và các tiêu chuẩn khác đối với hàng điện tử, bao bì và hàng tiêu dùng

Phân tích và kiểm tra tính xác thực của vàng và các kim loại quý khác, cũng như các hợp kim của chúng

Xác định trực tiếp hàm lượng phốt pho trong lớp phủ NiP chức năng

Brochure