Máy đo độ dày lớp mạ và phân tích vật liệu X Ray FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XULM PCB (min 0,1 mm)

Phân tích bể mạ và đo độ dày lớp phủ bằng huỳnh quang quang phổ tia X theo tiêu chuẩn DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Điểm đo nhỏ nhất với máy XULM PCB khoảng 0,1 mm

Ống phóng xạ tia X microfocus (XULM) với Anode làm bằng Tungsten (Vlofram)

Đầu dò Propotional Counter chất lượng cao cho thời gian đo ngắn

Khẩu độ: 0.1mm

Bộ lọc tín hiệu: cố định hoặc tùy chọn 03 chế độ

Bàn đo cố định hoặc điều chỉnh bằng tay

Camera cho phép theo dõi hình ảnh vị trí cần đo

Được cấp bằng sáng chế bởi Fischer: phương pháp DCM để điều chỉnh khoảng cách đo đơn giản và nhanh chóng

Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ

Các ứng dụng

Các lớp phủ mạ kẽm như kẽm trên sắt hoặc kẽm-niken trên sắt để bảo vệ chống ăn mòn cho các bộ phận sản xuất hàng loạt (đai ốc và bu lông)

Phân tích hàm lượng kim loại trong dung dịch bể mạ

Phân tích độ dày các lớp mạ trang trí Cr / Ni / Cu / ABS

Lớp phủ trên các giắc cắm hoặc chân kết nối trong ngành công nghiệp điện tử

Brochure