Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 (Đầu dò SDD)

Máy phân tích XRF cầm tay đa năng để đo độ dày lớp phủ chính xác và phân tích vật liệu - ngay cả với những vật liệu phức tạp; tuân thủ tiêu chuẩn DIN ISO 3497 và ASTM B 568

Trọng lượng 1,9 kg

Một lần sạc pin kéo dài đến 6 giờ hoạt động

Điểm đo: 3 mm Ø

Đầu dò drift silicon độ phân giải cao

Mức bảo vệ IP54 cho việc sử dụng ngoài trời

Buồng đo tùy chọn được sử dụng làm thiết bị XRF để bàn

Phần mềm WinFTM cho việc phân tích dữ liệu

Các ứng dụng

Thử nghiệm trên các vật thể cồng kềnh và với hộp đo lường, cũng như các bộ phận nhỏ

Xác định đồng thời cả độ dày và thành phần của một lớp trong một phép đo duy nhất (ví dụ: ZnNi trên Fe)

Có thể đo không cần hiệu chuẩn với mẫu hợp kim bất kì

Các phép đo trên các bộ phận lớn, được tráng phủ như linh kiện máy và vỏ

Kiểm tra các lớp galvanic

Phân tích hàm lượng kim loại của bể mạ điện

Brochure