Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ LEAD FRAME (Ø 50 µm halofree*)

Khí Heli cho phép việc đo các nguyên tố rất nhẹ bắt đầu từ natri

Ống mao quản dẫn tia X

Ống phóng năng lượng cao với crôm Anode

Bộ lọc có 4 sự lựa chọn

Camera màu CCD độ phân giải cao, hệ thống xác định vị trí với khoảng cách được hiệu chỉnh, đèn LED có thể điều chỉnh và hệ thống laser (loại 1) định vị cho việc đặt chính xác mẫu cần đo

Đầu dò SDD cao cấp

Bàn đo tự động XY với chức năng Pop-out và trục Z được điều khiển bằng điện cho các phép đo tự động

Các ứng dụng

Đo độ dày lớp mạ Au / Pd / Ni / CuFe và Sn / Ni trong phạm vi micro và nanomet

Khả năng đo trên bảng mạch đã lắp ráp và chưa lắp ráp

Kiểm tra các lớp kim loại hóa cơ bản (kim loại hóa dưới va chạm, UBM) trong phạm vi nanomet

Đo các nguyên tố nhẹ, ví dụ: xác định hàm lượng phốt pho (trong ENEIG / ENEPIG) dưới lơp Au và Pd

Kiểm tra lượng chì còn sót lại trên đỉnh của thanh đồng

Kiểm tra thành phần nguyên tố của C4 và các vết hàn nhỏ hơn, cũng như các bề mặt tiếp xúc nhỏ trong ngành bán dẫn

Brochure