Máy quang phổ HINOTEK SP2000 (325-1000nm)

Chế độ thử nghiệm cơ bản:

Đo lường cơ bản:

-Đo trắc quang,(A/T)

- Đo nồng độ (C)

Đo nồng độ:

- Phương pháp độ dốc (C=K*A)

- Phương pháp đường chuẩn

Chức năng phần mềm: Máy trạm Win-spec, SP-1.33EN

Phân tích đo quang: đo T, A và C

Phân tích định lượng: Đo đường chuẩn

Phân tích động học: Đo lường với quét thời gian

Thông số kỹ thuật chính:

Hiển thị: Màn hình LCD kỹ thuật số 3,5 bit

Nguồn sáng: Đèn Halogen 6V10W (2000 giờ)

Khoang mẫu (Tối đa): Đường quang 50mm

Giá đỡ tế bào tiêu chuẩn: 50mm

Cấu hình ô tiêu chuẩn: Ô kính 10 mm (4 cái)

Yêu cầu nguồn điện: 110/220VAC，50/60Hz,±10%

Các chức năng cơ bản của công cụ:

Thiết lập 100%T hoặc 0%T: Tự động.

Đầu ra tín hiệu: RS-232C, Analog

Chức năng giao tiếp: Có thể thực hiện giao tiếp sau khi kết nối với PC

Hiệu suất đo quang:

Phân tích đo quang: đo T, A và C;

Dải đo quang: 0-125,0%T，0-1,999A, 0-1999C， 0-1999F

Độ chính xác đo quang: ± 0,5% T

Độ lặp lại đo quang: 0,3%T

Độ ổn định: ±0,003A/giờ (ở bước sóng 500nm, sau khi khởi động trong 1

giờ)

Hiệu suất quang học:

Hệ thống quang học: Hệ thống quang học loại Littrow với bộ đơn sắc cách tử nhiễu xạ 1200 rãnh/mm

Đường sáng: 100mm

Băng thông phổ: 5nm

Dải bước sóng: 325-1000nm

Độ chính xác bước sóng: ±2nm

Độ lặp lại bước sóng: 1nm

Ánh sáng lạc: ≤0,5%T（ở 360nm）

Brochure: