Kính hiển vi luyện kim HINOTEK XJP-412J

Hệ thống quang học: hệ thống quang học vô hạn

Đầu kính: Đầu ba mắt Compensation Free nghiêng 45° Khoảng cách giữa các đồng tử có thể điều chỉnh 48mm-75mm

Thị kính: trường rộng WF10X/22mm; WF10×/20mm với lưới trắc vi 0.1mm

Vật kính: vật kính B&D infinite Plan với khoảng cách làm việc 5×/0.15（WD14.47mm）; 10×/0.25（WD16.01mm; 20×/0.40（WD10.5mm; 50×/0.55（WD5.1mm）

Nosepiece: Quintuple Nosepiece với DIC Jack

Bàn sa: bàn sa trượt hai lớp kích thước 255mm×170mm; Phạm vi di chuyển：70mm×50mm; Bánh xe tay điều chỉnh XY nằm ở vị trí thấp

Lấy nét: Điều chỉnh lấy nét thô & tinh đồng trục, độ chia 0.001mm

Nguồn sáng: Chiếu sáng Kohler với màng chắn khẩu độ và màng chắn trường; Bóng đèn Halogen 12V/100W，AC85V-230V; độ sáng có thể điều chỉnh

Thiết bị phân cực: Máy phân tích có thể xoay 360°, Bộ phân cực, có thể nhìn ra ngoài đường đi của ánh sáng

Bộ lọc: Xanh lục, Xanh da trời, Trung tính

Dụng cụ kiểm tra: Panme 0.01mm

Phụ kiện chọn mua thêm:

- Thị kính：WF15X/17mm, WF20X/12.5mm

- Vật kính：Vật kính B&D infinite Plan khoảng cách làm việc dài 80X/0.70（WD3.1mm, 100X/0.80（WD3.01mm）

- Thiết bị DIC

- Phụ kiện chụp ảnh và CCD C-mount 0.5X, 0.57X, 0.75X; 1.3Mega, 2.0Mega, 3.0Mega, 5.0Mega, 10.0Mega pixel

- Thị kính máy ảnh kỹ thuật số CMOS

- Camera CCD, màu 1/3 Độ phân giải cao 700 TV lines

- Phần mềm đo hai chiều

- Phần mềm phân tích ảnh luyện kim

- Micromet thị kính

- Camera công nghiệp

Brochure