Máy đo độ dày lớp phủ tự động INSIZE XRF-FA350 (Li(3)-U(92), 0.01~80µm)

Phân tích lớp phủ

Dải phân tích nguyên tố: Li(3)-U(92)

Giới hạn phát hiện: 0.005μm

Dải độ dày lớp phủ: 0.01~80µm

Thời gian phân tích: 0~40s

Máy phát hiện: Máy phát hiện tỷ lệ cao

Thiết bị tia X: Ống tia X tăng cường microfocus

Collimator: Ø0.2mm

Dải điểm đo ở khoảng cách đo gần nhất: <10%

Khoảng cách phóng đại: 0~90mm

Quan sát mẫu: CCD màu 1/2.7" với chức năng phóng đại

Phương pháp lấy nét: Cảm biến độ nhạy cao với khả năng tự động lấy nét không thể nhận thấy

Chế độ di chuyển của bàn mẫu: Bàn XY tự động chính xác cao

Dải di chuyển của trục XY: 210×245mm

Dải di chuyển của trục Z: 145mm

Nhiệt độ làm việc: 15°C~30°C, <70% độ ẩm tương đối

Nguồn: AC 220V, 50Hz, 150W

Kích thước (W×D×H): 535×760×635mm

Trọng lượng: 120kg

Datasheet

Standard Delivery

Main unit: 1 pc

Computer: 1 set

Printer: 1 pc

Accessory case: 1 pc

12 elemental tablets: 1 set

Ni standard sheet: 1 pc

Ag standard sheet: 1 pc