Máy đo quang phổ huỳnh quang tia X, đo độ dày màng phim INSIZE XRF-PT230 (0.01-80μm; 2ppm-99%)

Phân tích lớp phủ:

+ Phạm vi phân tích nguyên tố: Li (3)-U (92)

+ Giới hạn phát hiện: 0.005µm

+ Phạm vi phân tích hàm lượng: 0.01-80μm (giới hạn phát hiện đối với các nguyên tố khác nhau là khác nhau) 0.1μm (lớp phủ ngoài mỏng <1pm)

+ Độ lặp lại: 0.1pm (lớp phủ ngoài mỏng <1pm)

+ Độ ổn định: 0.1pm (<1pm lớp phủ ngoài mỏng)

Phân tích thành phần

+ Phạm vi phân tích nguyên tố: S(16)-U(92)

+ Giới hạn phát hiện: 2ppm

+ Phạm vi phân tích hàm lượng: 2ppm-99%

+ Độ lặp lại: 0.1%

+ Độ ổn định: 0.1%

Cấu hình EFP: cấu hình tiêu chuẩn

Thời gian đo: 5-300s

Máy dò: Máy dò bán dẫn Si-Pin

Nguồn tia X: ống tia X hội tụ vi mô

Collimator: Tiêu chuẩn: Φ 0.3mm (Φ 0.5mm, Φ0.3mm, Φ0.2mm, 0.1 × 0.3mm) bốn ống chuẩn trực tùy chọn, tùy chỉnh chấp nhận được

Độ khuếch tán tại chỗ: <10%

Camera: CCD 1/2.7 màu, chức năng zoom

Đo khoảng cách: ống kính zoom 0-30mm

Phương pháp lấy nét: ống kính có độ nhạy cao, lấy nét thủ công

Hệ số phóng đại: độ phóng đại quang học 38-46X, độ phóng đại kỹ thuật số 40-200X

Chiều cao mẫu tối đa: 210mm

Bàn soi XY: bàn soi XY có độ chính xác cao thủ công

Phạm vi di chuyển có sẵn: 50mmx50mm

Môi trường hoạt động: 15-30°C, <70%RH

Nguồn điện: AC220V, 50Hz, 95W

Kích thước (LxWxH):545x380×435mm

Trọng lượng: 48kg

Cung cấp bao gồm

Đơn vị chính: 1 cái

Máy tính: 1 cái

Máy in: 1 cái

Hộp phụ kiện: 1 cái

Tấm mười hai yếu tố: 1 cái

Đĩa tiêu chuẩn: 2 chiếc*

Optional

Cốc đo dung dịch mạ điện: XRF-PT230-MC

Màng thử nghiệm giải pháp: XRF-PT230-SF

Datasheet