Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Phân tích lớp phủ:
+ Phạm vi phân tích nguyên tố: Li (3)-U (92)
+ Giới hạn phát hiện: 0.005µm
+ Phạm vi phân tích hàm lượng: 0.01-80μm (giới hạn phát hiện đối với các nguyên tố khác nhau là khác nhau) 0.1μm (lớp phủ ngoài mỏng <1pm)
+ Độ lặp lại: 0.1pm (lớp phủ ngoài mỏng <1pm)
+ Độ ổn định: 0.1pm (<1pm lớp phủ ngoài mỏng)
Phân tích thành phần
+ Phạm vi phân tích nguyên tố: S(16)-U(92)
+ Giới hạn phát hiện: 2ppm
+ Phạm vi phân tích hàm lượng: 2ppm-99%
+ Độ lặp lại: 0.1%
+ Độ ổn định: 0.1%
Cấu hình EFP: cấu hình tiêu chuẩn
Thời gian đo: 5-300s
Máy dò: Máy dò bán dẫn Si-Pin
Nguồn tia X: ống tia X hội tụ vi mô
Collimator: Tiêu chuẩn: Φ 0.3mm (Φ 0.5mm, Φ0.3mm, Φ0.2mm, 0.1 × 0.3mm) bốn ống chuẩn trực tùy chọn, tùy chỉnh chấp nhận được
Độ khuếch tán tại chỗ: <10%
Camera: CCD 1/2.7 màu, chức năng zoom
Đo khoảng cách: ống kính zoom 0-30mm
Phương pháp lấy nét: ống kính có độ nhạy cao, lấy nét thủ công
Hệ số phóng đại: độ phóng đại quang học 38-46X, độ phóng đại kỹ thuật số 40-200X
Chiều cao mẫu tối đa: 210mm
Bàn soi XY: bàn soi XY có độ chính xác cao thủ công
Phạm vi di chuyển có sẵn: 50mmx50mm
Môi trường hoạt động: 15-30°C, <70%RH
Nguồn điện: AC220V, 50Hz, 95W
Kích thước (LxWxH):545x380×435mm
Trọng lượng: 48kg
Cung cấp bao gồm
Đơn vị chính: 1 cái
Máy tính: 1 cái
Máy in: 1 cái
Hộp phụ kiện: 1 cái
Tấm mười hai yếu tố: 1 cái
Đĩa tiêu chuẩn: 2 chiếc*
Optional
Cốc đo dung dịch mạ điện: XRF-PT230-MC
Màng thử nghiệm giải pháp: XRF-PT230-SF
