Thiết bị phân tích XRF INSIZE XRF-VF300 (2ppm~99%, 0.01~80µm)

Phân tích RoHS

Dải phân tích nguyên tố: Cd, Pb, Hg, Br, Cr, Cl, As, Sb

Giới hạn phát hiện: 2ppm

Dải hàm lượng: 2ppm~99%

Phân tích mạ

Dải phân tích nguyên tố: Li(3) - U(92)

Giới hạn phát hiện: 0.005μm

Dải độ dày mạ: 0.01~80µm

Phân tích hợp kim

Dải phân tích nguyên tố: Na(11) - U(92)

Giới hạn phát hiện: 2ppm

Dải hàm lượng: 2ppm~99%

Thuật toán: EFP

Thời gian phân tích: 1200s

Bộ dò: SDD (bộ dò trôi silicon)

Thiết bị tia X: Ống tia siêu nhỏ tăng cường

Collimator: Chuyển đổi tự động 4 loại: Ø0.5mm, Ø1.5mm, Ø3mm, Ø8mm

Độ lan tỏa điểm tại khoảng cách đo gần nhất: <10%

Quan sát mẫu: CCD màu 1/2.7" với chức năng zoom

Khoảng cách zoom: 0~30mm

Phương pháp lấy nét: Ống kính nhạy cao với lấy nét thủ công

Hệ thống chân không: Hệ thống chân không thông minh

Chiều cao buồng mẫu: 100mm

Môi trường làm việc: 15~30°C, <70%RH

Nguồn: AC220V, 50Hz, 95W

Kích thước (LxWxH): 470×550×370mm

Trọng lượng: 50kg

Datasheet

STANDARD DELIVERY

Main unit: 1 pc

Computer: 1 set

Software: 1 set

Printer: 1 pc

Vacuum pump: 1 pc

Accessory case: 1 pc

12 elemental tablets: 1 set

Ni standard sheet: 1 pc

Ag standard sheet: 1 pc

ERM-EC681m standard sheet: 1 pc