Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Ống X-ray: Mục tiêu Mo
Hệ thống phát hiện: SDD
Độ phân giải năng lượng SDD: 125eV FWHM tại Mn Kα
Ống chuẩn trực: Mao dẫn tổng hợp FWHM - Tiêu cự: 15um
Nguyên tố phát hiện: Al(13) - U (92)
Loại mẫu: Chất rắn/Chất lỏng/Bột, Đa lớp
Kích thước buồng đo: 390 X 410 X 100mm (W x D x H)
Điện áp: 50 kV
Dòng điện: 1 mA
Hướng tia: Từ trên xuống
Bệ chữ Z: Có
Chế độ tiêu chuẩn: Đo độ dày lên đến 5 lớp phủ
Độ phóng đại của máy ảnh: 40~80x
An toàn: khóa liên động 3 điểm
Đo độ dày lớp phủ: ENEPIG, Pd-Ni, Rh, v.v.
Phân tích các chi tiết ô tô, bảng mạch điện tử (PCB), tụ điện
Phân tích phủ, mạ một lớp, nhiều lớp, mạ hợp kim
Độ dày & tỷ lệ thành phần có thể được đo theo thời gian trong mạ hợp kim
