Máy đo độ dày lớp phủ ISP iEDX-150μT50 (50um)

Ống X-ray: Mục tiêu Mo

Hệ thống phát hiện: SDD

Độ phân giải năng lượng SDD: 125eV FWHM tại Mn Kα

Ống chuẩn trực: Mao dẫn tổng hợp FWHM - Tiêu cự: 50um

Nguyên tố phát hiện: Al(13) - U (92)

Loại mẫu: Chất rắn/Chất lỏng/Bột, Đa lớp

Kích thước buồng đo: 390 X 410 X 100mm (W x D x H)

Điện áp: 50 kV

Dòng điện: 1 mA

Hướng tia: Từ trên xuống

Bệ chữ Z: Có

Chế độ tiêu chuẩn: Đo độ dày lên đến 5 lớp phủ

Độ phóng đại của máy ảnh: 40~80x

An toàn: khóa liên động 3 điểm

- Ứng dụng:

Đo độ dày lớp phủ: ENEPIG, Pd-Ni, Rh, v.v.

Phân tích các chi tiết ô tô, bảng mạch điện tử (PCB), tụ điện

Phân tích phủ, mạ một lớp, nhiều lớp, mạ hợp kim

Độ dày & tỷ lệ thành phần có thể được đo theo thời gian trong mạ hợp kim

Datasheet