生産終了製品

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB 膜厚計 (Ø 20 µm halofree*)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ LEAD FRAME 膜厚計 (Ø 50 µm halofree*)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ WAFER 膜厚計 (Ø 10 µm halofree*)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ LD 膜厚計 (Ø 60 µm halofree*)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ 膜厚計 (Ø 20 µm Standard*)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 SDD 膜厚計 (SDD Detector)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB 膜厚計 (SDD Detector)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 膜厚計 (Đầu dò PIN)

FISCHER POROSCOPE HV20 高電圧による空隙率試験 (4–20kV)

FISCHER POROSCOPE HV5 高電圧による空隙率試験 (0.8–5kV)

FISCHER POROSCOPE HV40 高電圧による空隙率試験 (8~40kV)

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB 膜厚計

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 200 膜厚計

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 210 膜厚計

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220 膜厚計

FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 膜厚計 (Programmable, motordriven XY-stage)