Thiết bị ghi độ đục dải rộng JFE ATU75W-WFX-L (0 ~ 1,000 FTU; 0 ~ 100,000 ppm; 0 ~0.5 MPa; -3 ~ 45)

Cảm biến độ đục mật độ trung bình

Nguyênlý: Tán xạ ngược hồng ngoại (IR Backscattering)

Dải đo: 0 đến 1,000 FTU (chuẩn Formazin)

Độ phân giải: 0.03 FTU

Độ chínhxác: ±0.3 FTU hoặc ±2%

Cảm biếnđộ đục mật độ cao

Nguyênlý: Tán xạ ngược hồng ngoại (sử dụng sợi quang)

Dải đo: 0 đến 100,000 ppm (chuẩn Kaolin)

Độ phân giải: 2 ppm

Độ chínhxác: ±10 ppm hoặc ±5%

Áp suất

Nguyênlý: Cảm biến bán dẫn

Dải đo: 0 đến 0.5 MPa

Độ phân giải: 0.00001 MPa

Độ chínhxác:

Độ phi tuyến: ±0.05% toàn dải

Độ lặp lại: ±0.1% toàn dải

Nhiệt độ

Nguyênlý: Thermistor

Dải đo: -3 đến 45 ℃

Độ phân giải: 0.001 ℃

Độ chínhxác: ±0.02 ℃ (trong khoảng 3 đến 31 ℃)

Phương tiện bộ nhớ: Bộ nhớ Flash tích hợp 1 GB

Dữ liệu tối đa có thể ghi: Khoảng. 15 triệu lượt đọc

Chế độ đo: Liên tục, Burst

Khoảng thời gian đo: 0.1 đến 1 giây. (Tăng 0.1 giây) / 1 đến 600 giây. (Tăng thêm 1 giây)

Khoảng thời gian lấy mẫu liên tục: 1 đến 1.440 phút. (Tăng thêm 1 phút)

Số lượng mẫu: 1 đến 18.000

Nguồn điện: Pin kiềm 1.5 V AA / Pin lithium AA 1.5 V hoặc 3.6 V (SAFT)

Số lượng pin: Tối đa. 12

Giao tiếp: USB 2.0 (tương thích phiên bản 1.1) / Đầu nối: USB-C

Chất liệu vỏ: Titanium (cấp 2)

Kích thước: Φ70 mm x 302 mm

Trọng lượng xấp xỉ. 1.8 kg trong không khí, 1.0 kg trong nước

Độ sâu đánh giá: tương đương 50 m

Brochure