Thiết bị đo nội trở pin JINKO JK2520N (0.001mΩ~33.00KΩ, 0.01mV~400.00VDC)

Tham số kiểm tra: Điện trở AC, điện áp DC

Màn hình hiển thị: Màn hình TFT LCD 4.3 inch

Độ chính xác cơ bản:

Điện trở: 0.2%

Điện áp: 0.01%

Dải đo:

Điện trở: 0.001mΩ ~ 33.00KΩ

Điện áp: 0.01mV ~ 400.00VDC

Nguồn tín hiệu: AC 1kHz, điện áp mạch hở < 20mV, dòng điện thử: < 10mA

Dải đo: Thủ công hoặc Tự động

Tốc độ kiểm tra: 30 lần/giây, 10 lần/giây, 145 lần/giây

Kết quả hiển thị: Đọc trực tiếp, Δ%

Điều chỉnh: Xóa ngắn mạch trong toàn bộ dải đo

Bộ so sánh: Đèn LED hiển thị PASS/FAIL trên bảng điều khiển trước

Kích hoạt: Kích hoạt bên trong, Kích hoạt thủ công, Kích hoạt bên ngoài, Kích hoạt từ xa

Giao diện: RS232, Handler

Yêu cầu nguồn điện:

Điện áp: 198VAC ~ 240VAC

Tần số: 50Hz

Công suất: Tối đa 15VA

Kích thước:

Kích thước giá (mm):215(W) * 88(H) * 335(D)

Kích thước tổng thể (mm): 235(W) * 105(H) * 360(D)

Khác: Khóa phím và chức năng lưu dữ liệu, bộ nhớ flash bên trong và ghi trên ổ USB

Phụ kiện: Dây thử Kelvin 505

Phụ kiện Optional: Đầu dò thử 506A, Que thử trên bàn 506

 Product introduction: 

JK2520N is a newly designed battery tester with high precision and high performance. Using high-performance ARM microprocessor control. True color 4.3-inch LCD display in Chinese and English makes operation more convenient. It is widely used in high-performance and intelligent instruments for testing contact resistance, battery voltage and battery internal resistance. The new and improved sampling circuit can measure any kind of battery. In addition, the instrument has a professional sorting function and sorting signal ring setting, which is applied to the automatic sorting system to complete the automatic assembly line test. It can be equipped with a USB interface for remote control and data acquisition and analysis, which is very suitable for mass production of batteries.  

Performance characteristics: 

Adopt the vector method to measure, a variety of parameters measured by colleagues  

Comparator (sorting) function  

Test line damage detection 

Compatible with SCPI instruction set  

New and improved sampling circuit