Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Các thông số kỹ thuật
Dải tần số: 30 MHz ... 6 GHz
Đầu nối: SMB, male, jack
Trọng lượng: 400g
Cung cấp bao gồm
1x XF-R 400-1, Đầu dò H-Field 30 MHz đến 6 GHz
1x XF-R 3-1, Đầu dò H-Field 30 MHz đến 6 GHz
1x XF-B 3-1, Đầu dò H-Field 30 MHz đến 6 GHz
1x XF-E 10, Đầu dò E-Field 30 MHz đến 6 GHz
1x XF-U 2.5-1, Đầu dò H-Field 30 MHz lên đến 6 GHz
1x Cáp đo SMA-SMA 1 m, SMA-SMA
1x XF 1 qg, XF1 Hướng dẫn nhanh
1x Hộp đựng 5
Short description
The XF1 set consists of four magnetic field probes and one E-field probe for measuring E-fields and magnetic fields from 30 MHz to 6 GHz on electronic assemblies during the development stage. Due to their integrated impedance matching, the probes are less sensitive in the lower frequency range than the RF-type probes. The probe heads of the XF1 set allow for the step by step localization of magnetic-field interference sources on assemblies. First the XF-R 400-1 probe is used to detect electromagnetic interference from greater distances. Next, the higher resolution probes can be used to more precisely detect the interference sources. The E-field probe is used for the detection of electric interference fields near the assemblies. With trained use of the near-field probes, field orientation and field distribution can be detected. The near-field probes are small and handy. They have a current attenuating sheath and, therefore, are electrically shielded. They can be connected to a spectrum analyzer or an oscilloscope with a 50 Ω input. They have an internal terminating resistance.
Datasheet
