Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Cung cấp bao gồm
1x P1202-2, Nguồn từ trường ESD
1x BPS 203, Burst Power Station
1x BPS 203-Client, Phần mềm điều khiển
1x Máy đo trường BPM 02, dB/dt
1x D70 h03, Vòng đệm, 3 mm
1x D70 h10, Vòng đệm, 10 mm
2x Cáp đo SMA-SMB 1 m, SMA-SMB
1x USB-AB, Cáp USB Loại A-B
1x P1202-2 acc, Phụ kiện
1x NT Ex EU, Bộ nguồn
1x P1202-2, Hộp đựng
1x BPS 203 m, Hướng dẫn sử dụng BPS 203
1x P1202-2 m, P1202-2 set Hướng dẫn sử dụng
Short description
The field source, which are included in the probe set ESD/magnetic field coupling, generates magnetic ESD fields. With this field, ICs are defined and reproducibly pulsed to determine their immunity against ESD fields.
The reason for this is the ESD immunity of PC boards and electrical devices. The immunity is tested (IEC 61000-4-2). During the tests electric and magnetic fields are generated by coupled ESD interference into the PC boards. These fields affect the PC board surface and penetrate the IC casings. If fields penetrate the ICs, disturbance events will be generated. The IC interference via magnetic or electrical fields is a significant source of interference / interference path in addition to the conducted coupling of ESD interference above the ICs.
The knowledge gained about IC EMC behaviour is streamlined into the development of an assembly. Hence, expensive redesigns are avoided and development costs are reduced.
Furthermore, the use of the test methods for the determination of IC EMC parameters enables the IC producer to develop ICs more efficiently.
The test set up needs the ICE1 test system and external devices.
Datasheet
Manual
