Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Cung cấp bao gồm
1x P1202 L-ESD, ESD Magnetic Field Source Langer Pulse 0.2/2.5 ns
1x P1301 L-ESD, ESD E-Field Source Langer Pulse 0.2/5.5 ns
1x BPS 203, Burst Power Station
1x BPS 203-Client, Phần mềm điều khiển
1x Máy đo trường BPM 02, dB/dt
1x EPM 02, Máy đo trường dE/dt
2x Cáp đo SMA-SMB 1 m, SMA-SMB
1x HV FI-FI 1 m, Cáp cao thế, Fischer-Fischer
1x FBK 12P 1m, Cáp điều khiển
1x USB-AB, Cáp USB Loại A-B
1x D70 h03, Vòng đệm, 3 mm
1x D70 h10, Vòng đệm, 10 mm
1x FKE 30, Field Chamber Insert
1x NT Ex EU, Bộ nguồn
1x P1202 / P1301, Phụ kiện
1x P1202 / P1301, Hộp đựng
1x P1202 / P1301 m, P1202 / P1301 Bộ Hướng dẫn sử dụng
Short description
The field sources, which are included in the probe set field coupling 200 ps Langer ESD, generate very fast electric and magnetic ESD pulse fields. With these fields, ICs are defined and reproducibly pulsed to determine their immunity against ESD fields.
The reason for this is the ESD immunity of PC boards and electrical devices. The immunity is tested (IEC 61000-4-2). During the tests, standard ESD pulse fields and very fast electric and magnetic fields (200 ps) are generated by coupled ESD interference into the PC boards. These fields affect the PC board surface and penetrate the IC casings. If fields penetrate the ICs, disturbance events will be generated. The IC interference via magnetic or electrical fields is a significant source of interference path in addition to conducted coupling of ESD interference above the ICs.
From the probe set, knowledge will be gained of the IC EMC behaviour and this can be streamlined into the development of the PC board.
Expensive redesigns are avoided and development costs are reduced.
Furthermore, the use of the test methods for the determination of IC EMC parameters enables the IC producer to develop ICs more efficiently.
The test set-up needs the ICE1 test system and external devices.
Datasheet
Manual
