Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Dải đo: ( trục Z) 50 mm
Chiều dài dịch chuyển: 0.2 mm - 120 mm
Lực đo: 1 mN - 120 mN
Góc lấy mẫu: Trên bề mặt nhẵn, phụ thuộc vào độ lệch: cạnh sau lên đến 88°,cạnh trước lên đến 77°
Tốc độ tiếp xúc (trục Z): 0.1 - 1 mm/s
Độ phân giải: đầu đo: 0.38 µm (que đo 350 mm) / 0.19 µm (que đo 175 mm)
hệ thống đo: 0.04 µm
Độ lệch: < 1 µm (>120 mm)
Tốc độ đo: 0.2 mm/s - 4 mm/s
Tốc độ định vị: trục X và tốc độ lặp: 0.2 - 8 mm/s, In Z: 0.2 - 10 mm/s
Chiều dài que đo: 175 mm, 350 mm
Bán kính đầu đo: 25
Optional:
Parallel vise, vee-block
Equipment table
Software options:
DXF import option
Tangential elements option
QS-STAT / QS-STAT Plus option
