Máy đo phản xạ định hướng bán cầu Surface Optics SOC-100 HDR (2.0 - 25.0λ(μm), 5000 - 400cm-1)

Thông số kỹ thuật

Dữ liệu đo lường

Phản xạ song song, vuông góc và không phân cực tại 12 góc tùy chọn từ 8° đến 80°.

Phân tách phản xạ thành hai thành phần khuếch tán và gương.

Độ truyền dẫn hội tụ và phân tán tại góc tới 0°.

Độ phát xạ định hướng dựa theo bước sóng và nhiệt độ trên 500°C.

Tổng độ phát xạ bán cầu dựa theo nhiệt độ.

Lựa chọn định dạng dữ liệu: ERAS, định dạng bảng ASTM, dạng đồ thị, thang tuyến tính và logarit, μm hoặc cm⁻¹, phản xạ theo bước sóng và phản xạ theo góc.

Phần mềm Spectre

Cấu hình đo lường: Máy đo phản xạ tự động với bán elip điện 18” kết nối với máy quang phổ tiên tiến.

Hiệu chuẩn đo lường: So sánh phép quét mẫu với tiêu chuẩn vàng phản xạ gương được hiệu chuẩn tại mỗi góc và kết hợp phân cực để thiết lập hiệu chuẩn chính xác của phản xạ định hướng đo được.

Nguồn: Khoang gia nhiệt tùy chỉnh cung cấp bức xạ đồng nhất trong góc 2π steradian vào bán elip từ một lỗ mở ID 0.75” tại một tiêu điểm elip. Tất cả các bề mặt của khoang, ngoại trừ lỗ mở, đều được cách nhiệt bằng lớp cách nhiệt Min-K hiệu suất cao và thiết bị được bao quanh bởi lớp vỏ làm mát bằng nước.

Cấu hình đo lường: Máy đo phản xạ tự động 18” bán cầu điện hóa kết hợp với máy quang phổ hiện đại.

Dải quang phổ: Độ phủ bước sóng phụ thuộc vào quang học FTIR như thể hiện trong bảng sau.

λ(μm) cm-1

Tiêu chuẩn: 2.0 - 25.0 5000 - 400

Nền rắn: 14.0 - 200.0 700 - 50

Độ phân giải: Tùy thuộc vào yêu cầu dữ liệu, có thể sử dụng độ phân giải 2, 4, 8, 16 hoặc 32 cm⁻¹.

Kích thước mẫu tiêu chuẩn: Đường kính ngoài 1”. Giá đỡ mẫu có thể chứa mẫu có kích thước lên đến 3” x 5”.

Kiểm soát máy tính cho các phép đo: Quy trình tự động được điều khiển bằng máy tính với năm động cơ bước cho phép điều chỉnh phân cực (song song, vuông góc và không phân cực), góc tới thay đổi, hoán đổi mẫu chuẩn, góc chặn chùm. Chuyển động của dao chặn nguồn được đồng bộ hóa với gương FTIR, giúp loại bỏ lỗi phát xạ tự thân của mẫu.

Applications

Emittance as a function of temperature and wavelength for heat transfer analysis

Provides full scattered transmittance data into large angles up to a hemisphere of 2π steradians.

Support of IR image simulation and IR material development

Identification and measurement of surface contaminants

Characterization of scatter and degree of specularity

Measurement of polarized reflectance data for calculation of optical constants (n, k) of bulk and powdered materials

Datasheet