Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Thông số kỹ thuật
Kích thước
Đo hàm phân bố phản xạ hai chiều bán cầu (BRDF) với ánh sáng tới phân cực tuyến tính và không phân cực
BRDF không phân cực
BRDF phân cực tuyến tính (các thành phần Ma trận Mueller tuyến tính)
Hàm phân phối truyền dẫn hai chiều (BTDF)
Phạm vi quang phổ: Bước sóng .35 đến 1.6 micromet
Phạm vi góc - độ chính xác 0,1º cho từng góc:
Góc tới polar: Theta i Θi = 0º đến 85º
Góc tới phương vị: Phi i Φi = 0° đến 350°
Góc phản xạ polar: Theta r Θr = 0º đến 85º
Góc phản xạ phương vị: Phi r Φr = 0º đến 360º
Bộ lọc quang phổ: Bộ lọc dải thông màng mỏng thương mại tiêu chuẩn, đường kính 1 inch.
Tự động hóa: Θi, Φi, Θr, Φr, khẩu độ nguồn, bánh xe lọc mật độ trung tính (ND), giai đoạn X mẫu/tham chiếu và các giai đoạn phân cực được tự động hóa hoàn toàn
Nguồn: Đèn halogen thạch anh (nguồn IR và laser tùy chọn)
Đầu dò: Si (.35-1.0 µm) và InGaAs (1.0-1.6 µm). Có sẵn các đầu dò khác.
Độ nhiễu sàn: Nhỏ hơn 10-3 ster-1 hoặc tốt hơn (phụ thuộc vào bộ lọc thông dải)
Kích thước và hình dạng mẫu:
Kích thước mẫu thông thường là hình tròn có đường kính một inch.
Khả năng đo bột và chất lỏng.
Phát hiện phân cực:
Ellipsometry Ma trận Mueller hạn chế (Thành phần tuyến tính)
Hoạt động: Hệ thống thu thập dữ liệu và điều khiển dựa trên PC.
Kích thước: Rộng 40″ x Sâu 40″ x Cao 80″
Appliances
Measurements of DHR (directional hemispheric reflectance) and thermal emissivity
Defence & aerospace: evaluation of IR signature low observable paints and coatings
Radiative heat transfer: testing of emissivity for thermal modelling and thermal camera calibration
Semiconductors: testing of wafer fab hardware emissivity
Stealth coatings: measurement bands are chosen to evaluate low-observable spectral signatures
Datasheet
