Đăng ký nhận chiết khấu độc quyền, cập nhật giá sỉ và tin sản phẩm mới nhất ngay tại hộp thư của bạn.
Bằng cách đăng ký, bạn đồng ý với Điều khoản dịch vụ và Chính sách bảo mật của chúng tôi.
Kết nối trực tiếp với đội ngũ chuyên gia của chúng tôi
Khả năng đo lường và phân tích mang tính cách mạng
Phân tích mọi bề mặt đối xứng trục – bao gồm bề mặt phi cầu, cầu, phẳng và tự do
Độ chính xác cao nhất trên các vật có độ nghiêng lên đến 90° – lý tưởng để đo các bề mặt phi cầu lớn, dốc và nhỏ, bao gồm khuôn thấu kính điện thoại di động
Đo được hầu như mọi loại vật liệu – trong suốt, phản xạ gương, mờ đục, đã đánh bóng hoặc mài
Đo được các bề mặt cầu có độ lệch lớn – như bề mặt dạng “pancake” hoặc “gullwing” và các biên dạng có điểm uốn
Độ lặp lại kết quả đo tuyệt vời – ổn định cao nhất giữa các lần đo trong xác định công suất (Power) và giá trị PV (Peak-to-Valley)
Mức nhiễu hệ thống rất thấp – hoạt động ổn định, ít bị ảnh hưởng bởi biến đổi môi trường
Tốc độ đo nhanh – áp dụng cho các vật có đường kính lên đến 420 mm
The LUPHOScan HD non-contact 3D optical profilometer/equipment delivers the highest accuracy for radius and irregularity on challenging surfaces such as high departure aspheres and freeforms. The industry-leading stability guarantees accuracy even in the most challenging environments and provides fast measurement cycle times with no loss in accuracy. The next generation 3D profilometer/equipment provides an industry first with instrument accuracy better than ±50 nm (3σ) on sample slopes up to 90°.
Ultra-precision non-contact 3D form measurement
The LUPHOScan HD platforms are interferometric, scanning metrology systems based on MWLI® technology (multi-wavelength interferometry).
They are designed to perform ultra precision non-contact 3D form measurements of rotationally symmetric surfaces such as aspheric lenses, spheres, flats and freeforms.
Key benefits of the LUPHOScan HD include fast measurement speeds, high flexibility with regard to uncommon surface shapes (e.g. flat apexes or profiles with points of inflection), and maximum object diameters up to 420 mm.
This next generation LUPHOScan with low noise floor delivers an absolute measurement accuracy of better than ±50 nm (3σ) up to 90° of object slope.
The non-contact 3D form profilometer/instrument is ideal for applications where high accuracy and repeatability are essential to the manufacturing process. This is most beneficial for surfaces with steep slopes, varying pitch directions and small surfaces. By a significant reduction in noise and enhanced reproducibility, Taylor Hobson has addressed the rapidly advancing needs of lens designers and manufacturers.
LUPHOSwap - Complete form error characterisation of optical parts
The LUPHOSwap extends the capability of the LUPHOScan platforms, enabling complete characterisation of both surfaces of a lens. The two surfaces are measured successively. A unique measurement concept that enables absolute correlation of the results measured on both sides. As the form errors are measured, the LUPHOSwap determines the exact lens thickness, the wedge and decentre errors of the two surfaces and their rotational orientation.
In addition, the lens–mount positioning can be assessed. The LUPHOSwap is based on the absolute measurement capability of the LUPHOSmart sensor technology, a unique holder concept, and on an additional (runout) reference sensor.
Datasheet
