Máy đo độ dày và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 SDD (Đầu dò SDD)
Hãng sản xuất: FISCHER Model: FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237 SDD - Liên hệ
Tham khảo dịch vụ Hiệu chuẩn-Kiểm định và Sửa chữa
Gọi để có giá tốt
TP. Hà Nội: (024) 35.381.269
TP. Đà Nẵng: (023) 63.747.711
TP. Bắc Ninh: (0222) 730.39.68
TP. Hải Phòng: (0225) 730.03.89
TP. HCM: (028) 38.119.636
Đồng Nai: 0345.689.536
Máy quang phổ huỳnh quang tia X phổ để đo tự động trên các lớp phủ <0,0 5μm và để phân tích vật liệu trong vùng đo ppm theo tiêu chuẩn DIN ISO 3497 và ASTM B 568
Đầu dò SDD
Bộ lọc chính: có thể tùy chọn 3 chế độ
Khẩu độ: có thể tùy chọn 4 chế độ
Khoảng đo nhỏ nhất 0,15 mm
Chiều cao mẫu lên đến 14 cm
Bàn đo XY có thể lập trình với độ chính xác vị trí tới 10 µm
Được cấp bằng sáng chế bởi Fischer: phương pháp DCM để điều chỉnh khoảng cách đo đơn giản và nhanh chóng
Diện tích buồng mẫu lớn có thể đo các bản mạch in lớn
Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ
Các ứng dụng
Phân tích vật liệu của lớp mạ và hợp kim (kể cả các lớp phủ mỏng và hàm lượng thấp)
Ngành công nghiệp điện tử, ENIG / ENEPIG
Các tiếp điểm và đầu nối
Ngành công nghiệp thiết kế vàng, trang sức và đồng hồ
Đo lớp phủ vàng và paladi mỏng (vài nanomet) trong sản xuất PCB
Phân tích các nguyên tố vi lượng
Xác định chì (Pb) trong các ứng dụng có độ tin cậy cao (tránh làm bằng thiếc)
Phân tích lớp phủ vật liệu cứng
Brochure
- Cam kết chất lượng
- Bảo hành chính hãng
- Giao hàng tận nơi
- Đơn giản hóa giao dịch
