For full functionality of this site it is necessary to enable JavaScript.

Máy đo độ dày lớp phủ và phân tích vật liệu FISCHER FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 237 (Bàn đo tự động lập trình)

Máy quang phổ tán xạ huỳnh quang tia X (XRF) tự động dùng để phân tích vật liệu tự động và đo độ dày lớp phủ không phá hủy tuân theo ISO 3497 và ASTM B 568

Điểm đo nhỏ nhất với máy XDLM: xấp xỉ. 0,1 mm

Ống phóng tia microfocus (XDLM) với Anode làm bằng tungsten (Volfram)

Đâu dò Proportional counter chất lượng cao cho thời gian đo nhanh

Khẩu độ có 4 sự lựa chọn (XDLM)

Bộ lọc có 3 sự lựa chọn (XDLM)

Bàn đo XY cố định

Khối lượng mẫu tối đa: 20kg (44Ibs) hoặc 5 kg (11 lbs), giảm độ chính xác tiếp cận

Chiều cao mẫu tối đa 140 mm (5.5in)

Diện tích buồng mẫu lớn có thể đo các bản mạch in lớn

Hình ảnh camera rõ nét dễ dàng xác định vị trí đo

Được cấp bằng sáng chế bởi Fischer: phương pháp DCM để điều chỉnh khoảng cách đo đơn giản và nhanh chóng

Thiết bị đảm bảo an toàn bức xạ

Nguồn điện: AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz

Công suất tiêu thụ: tối đa 120 W, ko có đánh giá PC 

Cấp bảo vệ: IP40

Kích thước

Bên ngoài:  Width x depth x height (mm): 570 x 760 x 650, [in]: 22 x 30 x 26 

Bên trong buồng đo: 460 x 495 x 146, [in]: 18 x 19.5 x 5.7

Trọng lượng: 120 kg/265 lbs

Chi tiết

Ứng dụng

Đo độ dày các lớp phủ mạ kẽm, mạ điện như kẽm trên sắt để bảo vệ chống ăn mòn

Thử nghiệm hàng loạt các bộ phận được sản xuất hàng loạt

Phân tích thành phần của các loại thép đặc biệt, ví dụ: phát hiện molypden trong A4

Đo độ dày lớp phủ chrome trang trí, ví dụ: Cr / Ni / Cu / ABS

Tất cả các lớp phủ chrome điển hình - cũng như các lớp phủ mới như CrVI

Đo độ dày các lớp phủ vàng chức năng trên bảng mạch in như Au / Ni / Cu / PCB hoặc Sn / Cu / PCB

Lớp phủ trên các đầu nối và tiếp điểm trong ngành công nghiệp điện tử như Au / Ni / Cu và Sn / Ni / Cu

Datasheet


Brochure


  • Cam kết chất lượng
  • Bảo hành chính hãng
  • Giao hàng tận nơi
  • Đơn giản hóa giao dịch

Đăng ký nhận bản tin - cơ hội nhận khuyến mãi