Chotest SuperView W1 纳米3D光学表面轮廓仪 (≤10mm; 0.1nm)

Name: Chotest SuperView W1 纳米3D光学表面轮廓仪 (≤10mm; 0.1nm)
Brand: Chotest

ModelSuperView W1

联系我们

数量

安全结算

品质保证

轻松更换与退货

支持配送

Standard field of view: (0.98*0.98)mm

Max field of view: (6x6)mm

Reflectivity of test object: 0.5 % ~100 %

Repeatability of Roughness RMS: 0.005nm

Scanning range: ≤10mm

Resolution: 0.1nm

Accuracy of stage measurement: 0.3 %

Repeatability of stage measurement: 0.08% 1σ

Datasheet

获取优惠更新

获取专属批量折扣、批发价格更新和新产品通知，直接发送到您的邮箱。

订阅即表示您同意我们的服务条款和隐私政策。

快速支持

直接联系认证专家