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热测试系统 | EMIN.VN

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热测试系统

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Thermonics ECO-560/660 半导体零件测温仪 (-60 ~ + 200°C)

Thermonics ECO-560/660 半导体零件测温仪 (-60 ~ + 200°C)

Thermonics ATS-870E-M 半导体零件测温仪 (-100 ~ + 225°C)

Thermonics ATS-870E-M 半导体零件测温仪 (-100 ~ + 225°C)

Thermonics ATS-810E-T 半导体零件测温仪 (-80 ~ + 225°)

Thermonics ATS-810E-T 半导体零件测温仪 (-80 ~ + 225°)

Thermonics ATS-810E-M 半导体零件测温仪 (-80 ~ + 225°C)

Thermonics ATS-810E-M 半导体零件测温仪 (-80 ~ + 225°C)

Temptronic TP03500E 半导体晶片热测试系统 (30~200°C)

Temptronic TP03500E 半导体晶片热测试系统 (30~200°C)

Temptronic TP03500D 半导体晶片热测试系统 (20~200°C, option +300°C)

Temptronic TP03500D 半导体晶片热测试系统 (20~200°C, option +300°C)

Temptronic TP03015A 半导体晶片热测试系统 (30~200°C, option +300°C)

Temptronic TP03015A 半导体晶片热测试系统 (30~200°C, option +300°C)

Temptronic TP03000A 半导体晶片热测试系统 (-65°C~200°C)

Temptronic TP03000A 半导体晶片热测试系统 (-65°C~200°C)

Temptronic ThermoSpot DCP-101 台式直接接触热循环系统 (-55~175°C)

Temptronic ThermoSpot DCP-101 台式直接接触热循环系统 (-55~175°C)

Temptronic ATS-545-T 半导体零件测温仪 (-80~+225°C)

Temptronic ATS-545-T 半导体零件测温仪 (-80~+225°C)

Temptronic ECO-810E-M 半导体零件测温仪 (-80 ~ +225°C)

Temptronic ECO-810E-M 半导体零件测温仪 (-80 ~ +225°C)

Temptronic ATS-710E-M 温度试验环境 (-80° ~ +225°C)

Temptronic ATS-710E-M 温度试验环境 (-80° ~ +225°C)

Temptronic ECO-710E-M 温度试验环境 (-80 ~ +225°C)

Temptronic ECO-710E-M 温度试验环境 (-80 ~ +225°C)

ETSP ETSP-BTC 2000 半导体监测老化试验箱

ETSP ETSP-BTC 2000 半导体监测老化试验箱

ETSP ETSP-BTC 1000 半导体监测老化试验箱

ETSP ETSP-BTC 1000 半导体监测老化试验箱

Thermonics ATS-850E-M 半导体零件测温仪 (-90 ~ + 300°C)

Thermonics ATS-850E-M 半导体零件测温仪 (-90 ~ + 300°C)

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